Στα πλαίσια της νέας μας συνεργασίας με τον κορυφαίο Οίκο PANalytical, έχουμε την τιμή και την ευχαρίστηση να σας προσκαλέσουμε στο ανωτέρω σεμινάριο.
Κατά την διάρκεια του σεμιναρίου θα γίνει παρουσίαση για την τεχνική φασματομετρίας Ακτίνων-Χ (WDXRF, EDXRF) και της τεχνικής της περιθλασιμετρίας (XRD), αναφορά στις εφαρμογές XRF και XRD, καθώς και στα προϊόντα του Οίκου PANalytical.
Τα θέματα θα αναπτυχθούν στην Αγγλική από τους κυρίους Graham Rhodes, XRF Marketing Manager, Dr. Paul O’ Meara, XRD Product Manager και Bas Ter Mull, Area Manager, του Οίκου Panalytical.
Η συμμετοχή στο σεμινάριο είναι δωρεάν.Λόγω όμως του ορισμένου αριθμού των διαθέσιμων θέσεων, παρακαλούμε όπως μας δηλώσετε την συμμετοχή σας έως και την Τετάρτη, 7 Νοεμβρίου 2007, το αργότερον, στέλνοντας μας την συνημμένη Αίτηση Συμμετοχής με fax ή e-mail, περιλαμβάνοντας όλα τα σχετικά στοιχεία σας.
